ぺるけさん設計のhFEテスターを作る【07】

J-FET選別治具の基板パターン図

「ぺるけ」さんの「JFETの簡易選別法」にあるペア取り用Idss測定治具を、片面ユニバーサル基板:P-08241 Dタイプ 上に組込むためのパターン図が出来上がった。

回路はきわめてシンプルなものであるが、パターン設計ではけっこう悩んだ。

  • タカスの基板「IC-301-70」などのように2目や3目連接パターンは無いため、配線が交差する場合は、迂回(遠回り)のような経路をとることになってしまう。
  • 部品の端子とジャンパ線を一緒にハンダ付けせざるを得ない。このため、基板のランド口径:φ1mm内に両者を収めることが必須で、φ0.28mm銅線を使用(これ以上は無理)して上記写真のような接続本数とする必要がある。
  • 1ランドにジャンパ線3本挿入となるのは避けられない。線径を考慮する必要がある。
  • 試料FETのソース:S~ドレイン:D間のショートは、「ピンヘッダ」をクリップなどで挟む構造とした。(あまり意味がなかったか…)

片面ユニバーサル基板は制約が多い。